Newsletter

Podaj swój adres e-mail by na bieżąco otrzymywać informacje o najnowszych promocjach

X Strata-920

Pomiar i analiza wielowarstwowa grubości powłok XRF

« powrót do listy

X-Strata 920 to kompaktowy, wytrzymały niezawodny system kontrolI jakości XRF do nieskomplikowanej, szybkiej i nieniszczącej analizy pomiarów grubości powłok i materiałów.

System umożliwia wykonanie doskonałej analizy grubości powłok i analizy wielowarstwowej dla wielu aplikacji włączając zastosowanie w elektronice, odlewnictwie, obróbce metali czy jubilerstwie.

Analizator grubości powłok X-Strata 920 oferuje znaczące korzyści dla użytkownika:
- badanie metodą nieniszczącą: nie wymaga przygotowania próbek do badania
- sprawdzona w terenie technologia i wiarygodność pomiarowa
- prosty w obsłudze,
- wyjątkowa dokładność i precyzja pomiarowa,
- urządzenie zaprojektowane i wyprodukowane przez producenta z ponad 20 letnim doświadczeniem w zakresie pomiaru powłok.

X Strata 920 występuje w trzech konfiguracjach:

1. Standardowa baza

•  “szczelinowa komora” umożliwia pomiar szerokiego zakresu próbek zarówno małych komponentów jak i dużych płaskich próbek, np. płytki elektroniczne – PCB. Rozmiar próbki może przekroczyć szerokość urządzenia
•  Ekonomiczne i praktyczne
•  Do analizy próbek do 33mm (1.3”) wysokości

2. Regulowana baza Mini-well
•  Komora “Mini-Well” umożliwia pomiar szerokiego zakresu części/komponentów od małych do dużych, do  160mm (6.3”) wysokości
•  Taca na próbki, która może być umieszczona w czterech pozycjach 'mini-well" umożliwiających badanie próbek o różnych wysokościach, zapewniając w ten sposób prostą analizę szerokiego spektrum próbek.
•  “szczelinowa komora” umożliwia pomiar szerokiego zakresu próbek zarówno małych komponentów jak i dużych płaskich próbek, np. płytki elektroniczne – PCB. Rozmiar próbki może przekroczyć szerokość urządzenia

3. Programowalna baza XY
•  Ruchomy i programowalny stolik umożliwia automatyczny pomiar wysokich próbek
•  Kontrola myszką umożliwia łatwe pozycjonowanie części w celu dokładnego pozycjonowania punktów przeznaczonych do analizy
•  “szczelinowa komora” umożliwia pomiar szerokiego zakresu próbek zarówno małych komponentów jak i dużych płaskich próbek, np. płytki elektroniczne – PCB. Rozmiar próbki może przekroczyć szerokość urządzenia   
•  Rozmiar stolika: 56mm (22") głębokość x 61mm (24") szerokość