MAXXI 6

MAXXI 6 – Analizator grubości powłok
Pomiar grubości warstwy, oparty o technikę fluorescencji rentgenowskiej (XRF), to szeroko akceptowana i uznana technika analityczna w przemyśle. Umożliwia ona szybką i nieniszczącą analizę z niewielką potrzebą lub bez przygotowania próbki. Umożliwia analizę próbek o różnych stanach skupienia takich jak ciała stałe czy płyny w zakresie od 13Al do 92U w układzie okresowym pierwiastków.

Dzięki wysokiej precyzji detektorom SDD, MAXXI 6 to idealne urządzenie do badania najcieńszych warstw i składu elementów w śladowych ilościach.

Cechy kluczowe:
– Berylowe okno do mikrofokusowej lampy rentgenowskiej wysokiej precyzji, 
– Krótki pomiar z sprawdzoną wiarygodnością
– Najwyższej precyzji detektory silikonowe (SDD Silicon Drift Detector) oferują optymalną efektywność dla wszystkich poziomów energii przy poprawionych limitach detekji (LOD -Limits of Detection )
– Obszerna komora analityczna idealna dla standardowych i ponadstandardowych próbek
– Multikolimator optymalizuje generację przepływu
– Przyłącze USB umożliwia pracę na standardowym komputerze bez dodatkowego wyposażenia czy oprogramowania
– Wyprodukowany w Niemczech zgodnie z najwyższymi standardami
– Zaakceptowany przez PTB ((Physikalisch Technische Bundesanstalt), zapewnia najwyższy poziom ochrony przed promieniowaniem rtg.
 
Intuicyjne oprogramowanie oparte jest na WindowsTM 7. Szereg cech kalibracyjnych, takich jak kalibracja empiryczna, model FP lub kalibracja ze wstępnym obciążeniem dla RoHS i metali szlachetnych, zdecydowanie ułatwia analizę. Także komponenty sprzętowe wpływają na łatwość obsługi urządzenia: standardowy PC lub notebook mogą być podłączone do MAXXI 6 przez USB bez dodatkowego sprzętu lub oprogramowania układowego. Wyjątkowo duża szczelinowa komora probiercza o wymiarach wewnętrznych 500 x 450 x 170 mm, jest odpowiednia dla różnych próbek o standardowej i niestandardowej wielkości. Programowalny etap pozwala na zautomatyzowany pomiar i maksymalizuje zakres ruchu półki i prędkość.